SX-2實體顯微鏡

一、產品用途

SX-2實體顯微鏡主要用于產品的宏觀檢驗,能夠檢驗斷口內的裂紋（擠壓裂紋、淬火裂紋、鑄造裂紋）、裂口、縱向裂紋、焊和不良、疏松、氧化膜、氣孔等宏觀缺陷。也適用于自然領域或工程領域三維物體的觀察及工業(yè)電子領域的廣泛應用，也是教育和科研單位的標準配備工具。

二、產品性能

1. 視場寬廣，成像清晰，立體感強。

2. 1：8變倍范圍令成像質量更佳。

3. 45度傾斜的觀察頭可作360度旋轉使操作更舒適。

4. 左右目鏡筒可作±5視度調節(jié)。

5. 調焦工作范圍43mm，瞳距調節(jié)55-75mm。

6. 先進的鍍膜技術，觀察時具有極好的亮度和襯度。

三、技術規(guī)格

1. 觀察頭： 45°傾斜、360°旋轉，雙目瞳距：55-75mm視度調節(jié)±5屈光度

2. 放大倍數(shù)，工作距離及視場直徑

   目鏡	物鏡	總放大率	視場范圍（mm）	工作距離
   WF10×/20mm（標配）	0.63×-5.0×	6.3×-50×	28.6-4.4	100mm
   WF20×/10mm（選購）		14×-100×	14.3-2.2

3. 物鏡變倍比：8 : 1 確保像面齊焦性

4. 調焦機構：立臂調焦手輪松緊可調

5. 照明：上照明，入射照明鹵素燈：12V15W；下照明：透射照明鹵素燈：12V15W

四、配置清單

1. SX-2體視顯微鏡/1臺

2. 連續(xù)變倍鏡頭組/1只（在主機上）

3. 10X目鏡/1對

4. 磨砂玻璃板/1塊

5. 產品合格證、保修卡及說明書/1份