SG-109JD精密測量顯微鏡
一. 產品簡介
SG-109JD測量顯微鏡,通過搭配無限遠光學顯微鏡系統、照明裝置及對不同的升降機構和對焦機構的選擇,可以組成多款不同功能的顯微鏡機型;本款產品結合了金相顯微鏡的高倍觀察能力和影像測量儀的 X、Y、Z 軸表面尺寸測量功能,是同時具有高精度線性測量和觀察的多功能量測儀器;可廣泛應用 于半導體、PCB、LCD、手機產業鏈、光電通訊、基礎電子、模具五金、醫 療器械、汽車行業、計量行業等領域的檢測;通過選購可以具備明暗場、微分干涉、偏光等多種觀察功能。
二.產品特點
1. 采用優異的無限遠光學系統,提高成像襯度和清晰度,用戶可以得到鮮明、清晰的高對比度圖像,通過選購可實現明暗場,偏光,微分干涉等多種成像;
2. 模塊化設計,國際NK經典機身設計,可按需加裝不同鏡頭組及照明系統;
3. 擁有優越的光學性能和超高測量精度,搭配主體的操作平衡性,讓之前不可見或幾乎不可見的物件如今不僅能觀察,還能被測量;
4. 適合高性能零件、電子組件的三維測量;
5. 可輕易測量易碎工件及具有極小細節的工件!
6. 快速釋放裝置便于測量大工件或多個數量工件時快速移動工作臺,Z軸兩側均配備同軸粗/微調手輪,確保能以較快速度實現高精度對焦。
7. 照明系統:LED光源長壽命,快速響應及非常低的熱輻射,由于熱漂移導致的對焦不準得到顯著改善。
三.技術規格
1. 光學系統:無限遠光學系統
2. 觀察頭:30°傾斜,正像,無限遠鉸鏈三通觀察筒,瞳距調節 :50-76mm;帶有標準相機接口;十字線; 光路徑轉換(觀測/相機 =0/100)
3. 觀測方法:明場、簡易偏光觀測
4. 大視野平場目鏡: PL10X/22mm,視度可調,可帶測微尺
5. 無限遠長工作距平場物鏡
放大倍數 | 數值孔徑 | 工作距離(mm) |
PL L5× | 0.10 | 25.00 |
PL L10× | 0.25 | 11.00 |
PL L20× | 0.40 | 8.00 |
PL L50× | 0.75 | 1.90 |
6. 轉換器:內定五孔轉換器
7. 調焦系統:電動粗微調升降
8. 測量范圍(X、Y):150×100mm
9. 工作臺尺寸:200×100mm
10. 數顯分辨率: 0.0005mm
11. 儀器的回程誤差:0.002mm
12. 儀器測量準確度:X 和 Y (2+0.02L)μm,L 為測量長度(單位 :mm)
13. 照明系統:明場反射照明器:帶濾色片與偏光裝置插槽,帶 5WLED 燈源,亮度可調透射照明裝置:綠色LED平行光源,垂直光。
14. 測量軟件
① 輔助對焦,十字線采點
② 元素測量與預制:點、線、圓、弧、槽、橢圓、矩形、圓環、云線、角度、焦面;
③ 元素構造:中心點、交點、中點、線、園、角度、距離、云線等的構造;
④ 圖形處理:坐標平移、工件擺正、任意軸擺正,坐標系重置圓形縮放、圖形平移、圖形選中及刪除等多種處理,測量更方便更快捷,提高測量效率;
⑤ 測量方法多樣(自動尋邊、對比測量、局部放大采點),可以滿足用戶不同需求,大大提高使用的方便性和測量精度;
⑥ 專業統計分析工具,分析圖形有平均數全距管制圖、直放圖、CPK偏移圖,利用數據統計原理, 有效控制生產,不斷改進品質;
⑦ 測量數據直接發送到AutoCAD中,測量的圖形可以用dxf文檔保存,也可發送到Excel中進行
統計分析
⑧ 計錄用戶程序、編輯命令、教導執行;
⑨ 支持雙顯示器和多種語言界面的切換;
⑩ 用戶可根據測量精度需求選擇多點測量,規定點數測量,放大采點構造,對比方波進行工件測量;
? 軟件帶有系統誤差修正功能。目前可對坐標定位系統誤差和垂直度系統誤差進行補償。對坐標定位系統誤差的補償,有線性補償和區段補償兩種方法可供選用。
四. 配置清單
1. 顯微鏡主機/1臺
2. 平場目鏡PL10X/1對
3. 物鏡5x、10x、20x、50x/各1只
4. 垂直照明器/1臺(在主機上)
5. 手動移動平臺/1只(在主機上)
6. 高精度光柵尺/1套(在主機上)
7. 數顯表/1只 (在主機上)
8. 數字工業攝像頭/1只
9. 測量軟件/1套
10. 聯想計算機/1臺
11. 產品合格證、保修卡及說明書/1份
上海光學儀器廠是國內較早成立大型綜合類光學儀器的生產企業,以顯微鏡、光學儀器、測量工具顯微鏡、生物顯微鏡、測量投影儀、影像測量儀、工具顯微鏡、分光光度計、折射儀等見長,在國內久負盛名。上海顯微鏡企業全面改制后,開發了與電腦……
![]() | 021-55228110 13651999188 |
![]() | 55228110@163.com |
![]() | www.scno.cn |
![]() |